環(huán)境測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)

可靠性測(cè)試應(yīng)該在可靠性設(shè)計(jì)之后，但目前我國(guó)的可靠性工作主要還是在測(cè)試階段，這里將測(cè)試放在前面，
為了測(cè)得產(chǎn)品的可靠度（也就是為了測(cè)出產(chǎn)品的MTBF），我們需要拿出一定的樣品，做較長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試，找出每個(gè)樣品的失效時(shí)間，根據(jù)**節(jié)的公式計(jì)算出MTBF，當(dāng)然樣品數(shù)量越多，測(cè)試結(jié)果就越準(zhǔn)確。但是，這樣的理想測(cè)試實(shí)際上是不可能的，因?yàn)閷?duì)這種測(cè)試而言，要等到*后一個(gè)樣品出現(xiàn)故障――需要的測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)得無(wú)法想象，要所有樣品都出現(xiàn)故障——需要的成本高得無(wú)法想象。
為了測(cè)試可靠性，這里介紹：加速測(cè)試（也就增加應(yīng)力*），使缺陷迅速顯現(xiàn)；經(jīng)過(guò)大量專家、長(zhǎng)時(shí)間的統(tǒng)計(jì)，找到了一些增加應(yīng)力的方法，轉(zhuǎn)化成一些測(cè)試的項(xiàng)目。如果產(chǎn)品經(jīng)過(guò)這些項(xiàng)目的測(cè)試，依然沒(méi)有明顯的缺陷，就說(shuō)明產(chǎn)品的可靠性至少可以達(dá)到某一水平，經(jīng)過(guò)換算可以計(jì)算出MTBF（因產(chǎn)品能通過(guò)這些測(cè)試，并無(wú)明顯缺陷出現(xiàn)，說(shuō)明未達(dá)到產(chǎn)品的極限能力，所以此時(shí)對(duì)應(yīng)的MTBF是產(chǎn)品的*小值）。其它計(jì)算方法見(jiàn)下文。（*應(yīng)力：就是指外界各種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的破壞力，如產(chǎn)品在85℃下工作受到的應(yīng)力比在25℃下工作受到的應(yīng)力大；在高應(yīng)力下工作，產(chǎn)品失效的可能性就大大增加了）；

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產(chǎn)品在使用過(guò)程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，這些測(cè)試項(xiàng)目包括：
1).?高溫測(cè)試（高溫運(yùn)行、高溫貯存）；
2).?低溫測(cè)試（低溫運(yùn)行、低溫貯存）；
3).?高低溫交變測(cè)試（溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試）；
4).?高溫高濕測(cè)試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）；
5).?機(jī)械振動(dòng)測(cè)試（隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試）；
6).?汽車運(yùn)輸測(cè)試（模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試）；
7).?機(jī)械沖擊測(cè)試；
8).?開(kāi)關(guān)電測(cè)試；?
9).?電源拉偏測(cè)試；
10).冷啟動(dòng)測(cè)試；
11).鹽霧測(cè)試；?
12).淋雨測(cè)試；
13).塵砂測(cè)試；?
上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下（部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)國(guó)標(biāo)，或者是我還沒(méi)有找到）：
1、?低溫試驗(yàn)?
按GB/T?2423.1—89?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??低溫試驗(yàn)》；
GB/T?2423.22—87?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。?
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、?高溫試驗(yàn)
按GB/T?2423.2—89?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??高溫試驗(yàn)》；
GB/T?2423.22—87?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。?
溫度范圍：10℃～210℃
3、?濕熱試驗(yàn)
按GB/T?2423.3—93?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??恒定濕熱試驗(yàn)》；
GB/T2423.4—93?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??交變濕熱試驗(yàn)》
進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。???
濕度范圍：30%RH～100%RH
4、?霉菌試驗(yàn)
按GB/T?2423.16—90?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
5、?鹽霧試驗(yàn)
按GB/T?2423.17—93?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
6、?低氣壓試驗(yàn)
按GB/T?2423.21—92?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.25—92?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??低溫/低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.26—92?《電工電子產(chǎn)品??環(huán)境試驗(yàn)?**部分：試驗(yàn)方法??高溫/低氣壓試驗(yàn)》；
進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃??0～760mmHg???20%～95%RH。
7、?振動(dòng)試驗(yàn)
按GB/T?2423.10—95?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。???
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），*大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，*大位移25mmP-P。
8、?沖擊試驗(yàn)
按GB/T?2423.5—95?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。?
9、?碰撞試驗(yàn)
按GB/T?2423.6—95?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。
10、?跌落試驗(yàn)
按GB/T?2423.7—95?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??傾跌與翻到試驗(yàn)》；
GB/T2423.8—95?《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)??**部分：試驗(yàn)方法??自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。?
說(shuō)明：上面13項(xiàng)比較**地概括了產(chǎn)品在實(shí)現(xiàn)使用過(guò)程中碰到的外界環(huán)境；實(shí)際測(cè)試時(shí)，因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大，各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)，適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來(lái)測(cè)試（此產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的國(guó)/行標(biāo)中要求的必測(cè)試項(xiàng)目，當(dāng)然是必須測(cè)試的）；也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法，自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目，以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。